大多数要选购雷达物位计的用户，对于雷达物位计频率问题还是一知半解，甚至有人固执的认为频率越高越好，去选购的时候就要求工程师给定制最高频的产品。其实这是一个特别错误的认知，无论高频还是低频雷达物位计，都有自己的优点和不足之处，具体怎么选择要看用户自己的工况和测量介质而选。那么今天就简单给大家讲讲雷达物位计频率问题!

微波物位计使用的微波频率有三个频段：C波段(5.8~6.3GHz)、X波段(9~10.5GHz)、K波段(24~26GHz)。雷达物位计厂家根据自己的技术和国家认可的频率设计产品，不同的国家对同一频段有不同的规定，其实并没有本质区别，不同的频段有不同的波长，导致天线尺寸和适用材料不同，各有特点。目前，常规产品使用26GHz频率等高频微波，主要用于测量固体材料，天线聚焦和虚假回波聚焦性能更好，26GHz高频微波发射时，波束角小，能量集中，在实际使用中非常重要。低频微波物位计的波束较宽，如果物料较小或安装不良，会收到较多内部结构产生的虚假回波。高频微波对于相同尺寸的天线波束角更窄，容易避免内部元器件的干扰反射。

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高频雷达物位计对液位波动产生的信号更为敏感，这是因为信号的波长更接近液位波动的幅度，因此容易形成散射，使回波信号减弱，相比之下，低频微波受液位波动的不利影响较小。而高频微波具有更好的聚焦性能和能量集中度，有利于信号放大。无论频率如何，电子微波电平计单元和回波处理软件都可以处理低幅度的回波信号，在测量固体材料时，由于材料的表面往往不是水平的，并且有一个安息角，因此必须使用微波在材料的粗糙表面上产生漫反射，以便将部分回波反射回发射天线。5.8GHZ微波的波长约为52mm，因此在测量具有休止角的毫米级颗粒和材料时，很难得到好的结果。26GHZ的高频雷达物位计波长约11.5mm，微波也能在小颗粒表面形成漫反射，因此固体物位测量效果好。另外80G的调频雷达物位计可以可靠地测量细小颗粒甚至粉状物料的物位，并获得良好的固体测量结果。

高频雷达物位计对天线上的凝结和物质堆积更敏感，信号衰减也更大。同样的凝结和堆积会对较小的天线产生更大的影响。对于C波段使用的低频喇叭天线或杆式天线，基本上不受冷凝或堆积的影响。在粉尘较多的环境中，虽然高频微波的信号衰减比低频微波略大，但波束角小，能量相对集中。因此，可以获得更好的效果，天线体积小，安装使用方便。微波测量中泡沫对泡沫表面的影响视具体情况而定，取决于泡沫的类型，包括泡沫密度、介电常数和电导率。对于低密度泡沫，低频优于高频雷达物位计。

如果您之前对于选择频率问题有疑问的话，现在看完这篇文章应该有个基本认知了。无论高频低频，都有自己适合的工况，要“因地制宜”才是最合理的。